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Les farines de succédanés et les produits de biscuiterie-pâtisserie industrielles. Caractérisation par l'examen microscopique et l'identification des amidons

01/02/1951
Jean KIGER
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Article complet à lire dans le bulletin EFM numéro 121, page(s) 013-018, référence 121/013.
tags: farine, orge, maïs, soja, riz, sorgho, seigle, millet, manioc, microscope, microscopie, avoine, succédané, pâtisserie, alpiste, arachide, banane, châtaigne, dari, épeautre, moha, sarrasin,
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