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Analyse multi-paramètres de la farine avec l’analyseur Diode Array 7250 Perten

01/05/2014
Laure COUSANDIER, Pierre-Tristan FLEURY
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L'analyseur 7250 Perten est un appareil à barrettes de diodes proche infrarouge. Simple d'utilisation, il permet d'analyser un échantillon très rapidement (6 secondes), avec pour seule préparation de l'échantillon le remplissage et l'arasage de la coupelle. L’étude menée en partenariat avec le LEMPA, laboratoire de référence de l’Institut National de la Boulangerie Pâtisserie (INBP), a consisté :• d’une part, à prédire les paramètres meuniers classiques tels que teneur en eau, protéines, cendres… de divers échantillons de farines (n=30) à partir des calibrations préexistantes PERTEN et parallèlement à déterminer ces paramètres par les méthodes de référence, • à vérifier l'existence d'une corrélation entre la mesure obtenue au 7250 Perten et certains paramètres obtenus lors des tests de panifications selon la méthode LEMPA-INBP, ainsi que des valeurs de coloration de farines obtenues en coordonnées L*a*b au Konica Minolta. Cette étude a permis de valider sur l’échantillonnage retenu les performances pouvant être attendues sur ces calibrations. Pour rappel, le Diode Array 7250 permettant d'analyser tous types de produits (grains, farines et coproduits) constitue une solution complète pour l'industrie céréalière dans son ensemble.

Article complet à lire dans la revue Industrie des Céréales numéro 187, page(s) 24-25, référence 187/24.

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